19th International Workshop on DEPFET Detectors and Applications

Session

Lab Tests: PXD6 and EMCM

12 May 2015, 09:00

Tagungsraum (Kloster Seeon)

Conveners

Lab Tests: PXD6 and EMCM

• Christian Koffmane (MPI Halbleiterlabor)

65. Hybrid4.1 Gated Mode

Dr Eduard Prinker (Halbleiterlabor der Max-Planck-Gesellschaft)

12/05/2015, 09:00

66. JTAG Boundary Scan

Mr Philipp Leitl (Max-Planck-Institut für Physik)

12/05/2015, 09:20

67. EMCM Testing

Mr Felix Mueller (Max-Planck-Institut für Physik)

12/05/2015, 09:40

97. Database update

Dr Manfred Valentan

12/05/2015, 10:00

93. PXD9 Testing - Discussion

Mr Christian Koffmane (Halbleiterlabor der Max-Planck-Gesellschaft)

12/05/2015, 10:10